- IEC 61000-3-2:2009
高調波電流エミッションの測定
- JIS C 61000-3-2:2005
日本の高調波電流エミッション規制
- IEC 61000-3-3:2008
16A以下で条件付接続を必要としない機器の電圧変化、電圧変動、フリッカの制限
- IEC 61000-3-11
75A以下で条件付接続を必要とする機器の電圧変化、電圧変動、フリッカの制限
- IEC 61000-3-12
16Aを超えて75A以下の機器の高調波電流限度値
- IEC 61000-4-11:2004
電圧ディップ、短時間停電、電圧変動イミュニティ試験
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- IEC 61000-4-34:2009
16Aを超える機器の電圧ディップ、短時間停電、電圧変動イミュニティ試験
- IEC 61000-4-13:2009
高調波と次数間高調波イミュニティ試験
- IEC 61000-4-14
1相あたりの入力電流が16A以下の機器のための電圧変動イミュニティ試験
- IEC 61000-4-27
1相あたりの入力電流が16A以下の機器のための不平衡イミュニティ試験
- IEC 61000-4-28
1相あたりの入力電流が16A以下の機器のための電源周波数変動イミュニティ試験
- SEMI F47-0706
半導体プロセス装置 電圧サグイミュニティ試験
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