テストフィクスチャ・テストリード

テストフィクスチャ・テストリード

¥28,000 ~(税抜)

汎用部品向け

4端子測定が可能なテストリード、および高いインピーダンス測定に適した3端子測定のテストリードです。ケルビンクリップは電気的に絶縁された2つの電極を向き合わせて1つのクリップにしたものです。

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  • テストフィクスチャ用変換アダプタ PA-001-1838/PA-001-1839とあわせて使用することで、FRA51615、およびZGA5920にて使用可能です。

4端子ワニグチクリップテストリード 2324

4端子接続用のテストリードで、特にインピーダンスの低い部品の測定に適しています。中間ボックスまでは4端子対構造が保たれており、さらにその先のクリップ直前まではシールドされた5端子構造になっています。4つの端子が完全に独立しているので、電流検出用抵抗のような4端子部品の測定にも対応します。

  • 測定誤差を考慮した実用的な上限周波数は、100kHzです。これ以上の周波数では、残留成分による測定誤差が大きくなります。
4端子ワニグチクリップテストリード 2324

ケルビンクリップテストリード 2325AL/2325AM

2個のクリップで、4端子接続ができるケルビンクリップを用いたテストリードです。
ケルビンクリップの上下の電極は、電気的に絶縁され、独立した電極として働きます。中間ボックスまでは4端子対構造で、その先のクリップ直前までは、シールドされた (擬似) 5端子構造です。2本のリードまたは端子を持つ部品を低いインピーダンスまで正確に測定できます。
リード間隔が広過ぎて直結型テストフィクスチャでは測定できない部品、特殊な端子形状の部品などの測定に適しています。クリップの大きさは、部品にあわせて2種類より選択可能です。

  • 測定誤差を考慮した実用的な上限周波数は、100kHzです。これ以上の周波数では、残留成分による測定誤差が大きくなります。
※写真は2325ALです。
L型
ケルビンクリップテストリード 2325AM
M型

ケルビンクリップテストリード ZM2392

5端子構造のケルビンクリップテストリードです。
2325AL/AMよりも簡易的な構造になっているので、簡易測定用としてお使いください。

  • 測定誤差を考慮した実用的な上限周波数は、20kHzです。これ以上の周波数では、残留成分による測定誤差が大きくなります。
ケルビンクリップテストリード ZM2392

3端子ワニグチクリップテストリード ZM2391

測定用のワニグチクリップ2つとシールド用のクリップ1つを持つ、3端子構造のテストリードです。
ケーブルがシールドされているため、小さな容量や高抵抗など、高いインピーダンスの測定に使うには手ごろです。ただし、接触抵抗など残留インピーダンスが大きいため、低いインピーダンスの測定には適しません。

  • 測定誤差を考慮した実用的な上限周波数は、20kHzです。これ以上の周波数では、残留成分による測定誤差が大きくなります。
3端子ワニグチクリップテストリード ZM2391
桑木エレクトロニクス社の汎用部品向けテストフィクスチャ・テストリード 詳細

チップ部品向け

チップ部品測定用のテストフィクスチャとテストリードです。
テストリードは、測定コンタクトをシールドした3端子構造です。浮遊容量が小さく、小容量キャパシタの測定が容易です。
テストフィクスチャは2端子接続で表面実装部品を測定が可能です。ケーブルを使用しないため、浮遊容量や残留インピーダンスが小さく、精確なオープン補正、ショート補正ができます。

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品名 型名 測定周波数 備考
チップテストリード ZM2366 ≦10MHz 先端間隔 1~8mm(typ.)
チップ部品用テストリード 2326A ≦1.2MHz 先端間隔 1~8mm(typ.)
チップテストフィクスチャ ZM2394H ≦36MHz 対応部品サイズ 0603
(厚さ0.3mm)~14mm角
チップテストフィクスチャ ZM2394 ≦2MHz 対応部品サイズ 0603
(厚さ0.3mm)~14mm角
チップテストフィクスチャ ZM2393 ≦1.2MHz 対応部品サイズ 1608~5750
  • テストフィクスチャ用変換アダプタ PA-001-1838/PA-001-1839とあわせて使用することで、FRA51615、およびZGA5920にて使用可能です。

チップテストリード ZM2366

側面に電極を持つ表面実装部品を測定するためのLCRメータ用ピンセット型アダプタです。試料とは2端子接続になり、およそ50Ω以上のインピーダンスを測定するのに適しています。

  • DC~10MHz
  • 多様な形状・寸法の試料に適合
  • JIS 1005M (EIA 0402、厚さ0.5mm)から8mm角(底面)まで
  • ピンセット型で試料の取り扱いが容易
チップテストフィクスチャ ZM2366

仕様

適合試料 側面に電極を持つ表面実装部品
最小寸法:JIS 1005M(EIA 0402)、厚さ0.5mm
最大寸法:底面8mm 角、高さ6mm
形状によっては、適合しないことがあります。
周波数範囲 DC~10MHz
電圧範囲 ±42V
追加誤差
(参考値)
浮遊容量 Cp
  <0.2pF(コンタクト間隔 8mm、1MHz)
残留インダクタンス Ls
  <70nH(コンタクト間を直接短絡、1MHz)
残留インピーダンス| Z|
  <15mΩ(コンタクト間を直接短絡、1kHz)
  • オープン/ショート補正機能により、追加誤差を補正できます。
  • 高い周波数(500kHz以上において)オープン/ショート補正機能では補正できない追加誤差が目立つ場合、ロード補正機能を使うと軽減できます。
測定コンタクト 2端子接続
動作温湿度
範囲
温度: 0~+40℃
湿度: 5~85%RH(ただし、絶対湿度は1~25g/m3、結露がないこと)
外形寸法 約101.5(W)×48.5(H)×44(D)mm(突起部を除く)
質 量 約230g(付属品を除く)

外形寸法

外形寸法(ZM2366)
単位:mm

チップ部品用テストリード 2326A

2端子の表面実装用チップ部品を測定するためのピンセット型テストリードです。
先端の電極直前まで4端子対ですが、加工精度や強度の問題のため、先端は2端子構造になっているので、低いインピーダンスの測定では、誤差が大きくなることがあります。数十Ω以上のインピーダンス測定に適しています。
先端の測定コンタクトは着脱可能で、接触不良になっても、容易に交換できます。

  • 測定誤差を考慮した実用的な上限周波数は、1.2MHzです。これ以上の周波数では、残留成分による測定誤差が大きくなります。
チップ部品用テストリード 2326A

チップテストフィクスチャ ZM2394H

側面に電極を持つ多様な表面実装部品を測定するためのテストフィクスチャです。試料とは2端子接続になり、およそ50Ω以上のインピーダンスを測定するのに適しています。

  • DC~36MHz
  • 多様な形状・寸法の試料に適合
  • JIS 0603M (EIA 0201、厚さ0.3mm)から14mm角(底面)まで
  • 直結型で追加誤差が小さい
チップテストフィクスチャ ZM2394H

仕様

適合試料 側面に電極を持つ表面実装部品
最小寸法:JIS 0603M(EIA 0201)、厚さ0.3mm
最大寸法:底面14mm 角、高さ14mm
形状によっては、適合しないことがあります。
周波数範囲 DC~36MHz
電圧範囲 ±42V
追加誤差
(参考値)
浮遊容量 Cp
  <0.1pF(プローブ間隔 1mm、1MHz)
残留インダクタンス Ls
  <120nH(両プローブの先端を接触、1MHz)
残留インピーダンス| Z|
  <20mΩ(両プローブの先端を接触、1kHz)
  • オープン/ショート補正機能により、追加誤差を補正できます。
  • 高い周波数、特に1MHz以上において、オープン/ショート補正機能では補正できない追加誤差が目立つ場合、ロード補正機能を使うと軽減できます。
  • 残留インピーダンスは接触抵抗を含むため、汚れや接触圧により増大することがあります。
測定コンタクト 2端子接続
動作温湿度
範囲
温度: 0~+40℃
湿度: 5~85%RH(ただし、絶対湿度は1~25g/m3、結露がないこと)
外形寸法 約101.5(W)×48.5(H)×44(D)mm(突起部を除く)
質 量 約190g(付属品を除く)

測定例(インピーダンスアナライザに装着)

100Ω抵抗(周波数100kHzから30MHzまで)

チップテストフィクスチャ ZM2394H 測定例

外形寸法

外形寸法(ZM2394H)

チップテストフィクスチャ ZM2394

2端子の表面実装部品を測定するテストフィクスチャです。
0603(厚さ0.3mm)、1005、1608などの微小部品から14mm角の大型部品まで、側面に電極を持つ部品に広く適合します。
浮遊容量や残留インピーダンスが安定して小さく、正確なオープン補正、ショート補正ができます。
先端部は、2本の金属棒で部品を挟む2端子構造なので、低いインピーダンスの測定では誤差が大きくなることがありますので、ご注意ください。

  • 測定誤差を考慮した実用的な上限周波数は、2MHzです。これ以上の周波数では、残留成分による測定誤差が大きくなります。
チップテストフィクスチャ ZM2394

チップテストフィクスチャ ZM2393

2端子の表面実装部品を測定するテストフィクスチャです。
対応部品サイズは1608~5750です。
浮遊容量や残留インピーダンスが安定して小さく、正確なオープン補正、ショート補正ができます。
先端部は、2本の金属棒で部品を挟む2端子構造なので、低いインピーダンスの測定では誤差が大きくなることがありますので、ご注意ください。

  • 測定誤差を考慮した実用的な上限周波数は、1.2MHzです。これ以上の周波数では、残留成分による測定誤差が大きくなります。
チップテストフィクスチャ ZM2393
桑木エレクトロニクス社のチップ部品向けテストフィクスチャ・テストリード 詳細

リード部品用

試料のリードを差し込むだけで簡単に4端子法で測定可能なテストフィクスチャ。部品の大きさに合わせて、測定端子間隔を調整可能です。

テストフィクスチャ ZM2363

4端子接続により、小型の2端子リード部品を正確に測定するためのテストフィクスチャです。

  • DC~10MHz
  • 試料のリードを差し込むだけで、4端子接続可能
  • 接触抵抗の影響を抑えられ、低いインピーダンスでも正確に測定
  • 追加誤差が小さく安定
  • スライドコンタクトの採用で、アキシャルリード部品に対応
  • テストフィクスチャ用変換アダプタ PA-001-1838/PA-001-1839とあわせて使用することで、FRA51615、およびZGA5920にて使用可能です。
テストフィクスチャ ZM2363

仕様

適合試料 ラジアルリード部品
  リード間隔 3.5~73mm(リード径0.5mmのとき)
  リード径 0.3~3.0mm、
  最小リード長 4.0mm(試料本体下面から)
アキシャルリード部品(スライドコンタクト装着時)
  最大本体長 58mm、リード径 0.3~0.8mm
  最小リード長 4.5mm(試料本体側面から)
形状によっては、適合しないことがあります。
周波数範囲 DC~10MHz
電圧範囲 ±42V
追加誤差
(1MHz時・参考値)
浮遊容量 Cp
  スライドコンタクトなし < 0.1pF
  スライドコンタクトあり 0.1pF~0.6pF
残留インダクタンス Ls
  スライドコンタクトなし < 15nH
  スライドコンタクトあり 20nH~60nH
  • オープン/ショート補正機能により、追加誤差を補正できます。
  • 高い周波数、特に1MHz以上において、オープン/ショート補正機能では補正できない追加誤差が目立つ場合、ロード補正機能を使うと軽減できます。
測定コンタクト 4端子接続
動作温湿度
範囲
温度: 0~+40℃
湿度: 5~85%RH(ただし、絶対湿度は1~25g/m3、結露がないこと)
外形寸法 約101.3(W)×33(H)×53.5(D)mm(突起部を除く)
質 量 約150g(スライドコンタクト2つを含み、その他の付属品を除く)

測定例(インピーダンスアナライザに装着)

100Ω抵抗(周波数100kHzから10MHzまで)

テストフィクスチャ ZM2363 測定例

外形寸法

外形寸法(ZM2363)
桑木エレクトロニクス社のリード部品向けテストフィクスチャ・テストリード 詳細

電圧バイアス
アダプタ

測定対象物にDCバイアス電圧を印加しながら測定するためのアダプタです。外部の直流電源から、試料に±40Vの範囲のバイアス電圧を印加できます。4 端子対構造で浮遊容量や残留インピーダンスが小さく抑えられています。
LCRメータとテストフィクスチャの間に接続して使用します。

ZM2328 DC電圧バイアスアダプタ

  • ZM2371/ZM2372用
  • 対応するテストフィクスチャ:
    2324、ZM2391、2325A(L/M)、ZM2392、2326A、ZM2393、ZM2394
  • 測定誤差の観点から、測定周波数100Hz から100kHzでのご使用を推奨します。これ以上の周波数では、測定誤差が大きくなります。
  • 本アダプタを使用する場合は、LCRメータのファームウエアのバージョンが1.20以上である必要があります。バージョン1.20未満の場合には最新版にアップデートしてください。
ZM2328 DC電圧バイアスアダプタ

ZM2329 DC電圧バイアスアダプタ

  • ZM2376用
  • 対応するテストフィクスチャ:
    ZM2363、ZM2366、ZM2394H、2324、2325AL、2353AM
  • 使用可能周波数範囲100Hz~5.5MHz
ZM2329 DC電圧バイアスアダプタ

特殊用途
アクセサリ

桑木エレクトロニクスの製品です。

1020 薄膜測定治具

  • 2端子接続
  • 最大測定周波数:30MHz
  • 適合試料形状:薄膜
  • 誘電率、比誘電率の測定(6505B/6505Pシリーズの材料試験オプションが必要)

1022 液体用テストフィクスチャ

  • 2端子接続
  • 最大測定周波数:30MHz
  • 4対2 BNCコンバータ(1002)が必要

1025 接地部品用測定プローブ

  • 2端子接続
  • 最大測定周波数:120MHz
  • 適合試料形状:プリント基板
アクセサリ

1100 保護ユニット

電解コンデンサなどの測定において、電荷の放電により測定器が破損するのを防止。

  • 測定器との接続端子:BNC

1023 4端子-2端子変換アダプタ

4端子の測定器に2端子のテストフィクスチャを接続するための変換アダプタです。

価格表
オプション情報

本体

  • 2324 4端子ワニグチクリップテストリード

    ¥62,000(税抜)

  • 2325AL ケルビンクリップテストリード

    ¥130,000(税抜)

  • 2325AM ケルビンクリップテストリード

    ¥100,000(税抜)

  • ZM2392 ケルビンクリップテストリード

    ¥28,000(税抜)

  • ZM2391 3端子ワニグチクリップテストリード

    ¥24,200(税抜)

  • ZM2366 チップテストフィクスチャ

    ¥60,000(税抜)

  • ZM2394H チップテストフィクスチャ

    ¥90,000(税抜)

  • ZM2394 チップテストフィクスチャ

    ¥72,000(税抜)

  • ZM2393 チップテストフィクスチャ

    ¥48,000(税抜)

  • 2326A チップ部品用テストリード

    ¥77,000(税抜)

  • ZM2363 テストフィクスチャ

    ¥50,000(税抜)

  • ZM2328 DC電圧バイアスアダプタ

    ¥60,000(税抜)

  • ZM2329 DC電圧バイアスアダプタ

    ¥72,000(税抜)

オプション

  • PA-001-3856 2325AL用ケルビンクリップ

    • 型名をPC-007-1490から変更しました
    • 保守用、10/1価格改定

    ¥65,000(税抜)

  • PA-001-3857 2325AM用ケルビンクリップ

    • 型名をPC-007-1491から変更しました
    • 保守用、10/1価格改定

    ¥50,000(税抜)

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