株式会社エヌエフ回路設計ブロック
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インピーダンス/ゲイン・フェーズ アナライザ

インピーダンス/ゲイン・フェーズ アナライザ

ZGA5920

測定・解析機能

被測定物を選択し、必要な測定条件を設定するだけで測定が可能です。
被測定物の特性評価に必要なグラフやパラメタがあらかじめ設定されているので、測定を実行すると、結果が自動的に表示されます。
データの加工や複雑な計算をすることなしに、必要な情報を入手できます。

 

測定対象とパラメタ

上段:スイープパラメタ、中段:測定パラメタ、下段:解析、演算

圧電素子 周波数、時間
アドミタンス(|Y|[S])、位相(θ[deg])、コンダクタンス(G[S])、サセプタンス(B[S])
特徴的周波数、圧電パラメタ
誘電体 周波数、時間
並列静電容量(Cp[F])、並列抵抗(Rp[Ω])
誘電率(εs、εs′、εs")、損失率(tanδ)
磁性体 周波数、DCバイアス、時間
直列自己インダクタンス(Ls[H])、直列抵抗(Rs[Ω])
透磁率(μs、μs′、μs")、損失率(tanδ)
コイル 周波数、DCバイアス、AC振幅、時間
直列自己インダクタンス(Ls[H])、並列自己インダクタンス(Lp[H])、直列抵抗(Rs[Ω])、並列抵抗(Rp[Ω])、位相(θ[deg])、品質係数(Q)
等価回路推定、等価回路シミュレーション
コンデンサ 周波数、DCバイアス、AC振幅、時間
直列静電容量(Cs[F])、並列静電容量(Cp[F])、直列抵抗(Rs[Ω])、並列抵抗(Rp[Ω])、位相(θ[deg])、損失率(D)、品質係数(Q)
等価回路推定、等価回路シミュレーション
抵抗 周波数、DCバイアス、AC振幅、時間
インピーダンス(|Z|[Ω])、位相(θ[deg])、レジスタンス(R[Ω])、リアクタンス(X[Ω])
等価回路推定、等価回路シミュレーション
トランス リーケージ
インダクタンス
周波数、時間
Lleak[H]
-
相互インダクタンス測定 周波数
インダクタンス[H]
相互インダクタンス M[H]
結合係数測定 周波数
インダクタンス[H]
結合係数(k)
巻線比測定 周波数、時間
巻線比(Nr)
-
ダイオード 周波数、DCバイアス、時間
並列静電容量(Cp[F])、品質係数(Q)
同調特性シミュレーション(共振周波数[Hz])
サーボ ループ特性測定 周波数
利得、位相[deg]、利得実部、利得虚部
位相余裕[deg]、利得余裕[dB]、ループ帯域幅[Hz]
閉ループ特性測定 周波数
利得、位相[deg]
位相余裕[deg]、利得余裕[dB]、ループ帯域幅[Hz]、閉ループ-開ループ変換、回路モデル生成、回路モデルシミュレーション
開ループ特性測定 周波数
利得、位相[deg]
位相余裕[deg]、利得余裕[dB]、ループ帯域幅[Hz]、閉ループ-開ループ変換、回路モデル生成、回路モデルシミュレーション
増幅回路 利得・位相特性図 周波数、時間
利得、位相[deg]、群遅延[s]
伝達関数生成
CMRR特性 周波数
利得、位相[deg]
CMRR 特性図
PSRR特性 周波数
PSRR
-
微分利得微分位相特性図 DCバイアス
利得、位相[deg]
-
飽和特性 AC振幅
利得最大値と利得の差
1dB コンプレッションレベル([Vpk] / [dB])
フィルタ回路 周波数
利得、位相[deg]、群遅延[s]
低域遮断周波数[Hz]、高域遮断周波数[Hz]、通過帯域利得、
最大減衰量、通過域リプル、BEF 減衰量、帯域幅[Hz]、
伝達関数生成

 

 

測定・解析例

11種類の測定対象の代表的な測定例と、駆動アンプと測定アダプタを用いた高電圧・大電流の測定・解析例をご紹介。

*測定対象をクリックすると、測定・解析例をご覧いただけます。

電子材料

圧電素子 誘電体 磁性体    

電子・電気部品

コイル コンデンサ 抵抗 トランス ダイオード

電子回路

サーボ 増幅回路 フィルタ