株式会社エヌエフ回路設計ブロック
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信号発生器

マルチファンクションジェネレータ

WF1973/WF1974

アプリケーション

WAVE FACTORY

ISO 16750-2: 2006に準拠した規格試験

マルチファンクションジェネレータ WF1973/WF1974と車載機器試験用高速バイポーラ電源 As-161シリーズの組み合わせで、WF1973/WF1974のシーケンス機能を使って簡単に「ISO 16750-2:2006」に準拠した規格試験ができます。バイポーラ電源 BP4610/BP4620でも試験が可能です。 

 

ISO 16750-2:2006準拠「車載電装品用試験装置」

 

 WF1973/WF1974 シーケンスデータダウンロード →

 

対応している規格試験

 

4.4 Superimposed alternating voltage (重畳交流電圧)

【目的】:直流電源の残留交流を模擬する。

【試験】:DUTの該当するすべての入力部に、次の試験を同時に実施する。用途によって、厳しさのクラスを選択する。

4.4

 

4.4.2

 

4.5 Slow decrease and increase of supply voltage (電源電圧の緩速増減)

【目的】:バッテリの緩やかな放電、及び再充電を模擬する。

【試験】:変化速度(0.5±0.1)V/分として、電源電圧をUS max(16V)から0Vに減少させ、次に電源電圧を0VからUS max(16V)へ増加させる。

4.5

 

4.6 Discontinuities in supply voltage (電源電圧の不連続性) 

4.6.1 Momentary drop in supply voltage(電源電圧の瞬時低下)

【目的】:従来型のヒューズエレメントが別の回路内で溶融したときの影響を模擬する。

【試験】:立ち上がり、立ち下がり時間の条件 ≦10msec

4.6.1

 

4.6.2 Reset behaviour at voltage drop (電圧低下時のリセット挙動)

【目的】:様々な電圧低下におけるDUTのリセット挙動を検証する。

【試験】:

  1. 電源電圧をUS minから0.95US minまで5%引き下げる。
  2. この電圧を5秒間維持する。
  3. 電圧をUS minまで引き上げる。
  4. US minを10秒以上維持して、機能試験を実施する。
  5. 電圧を0.9US minまで引き下げる。
  6. 下方が0Vになるまで、US minの5%ずつ段階的に下げていく。
  7. 再度US minまで引き上げる。

4.6.2

 

4.6.3 Starting profile (起動プロフィール)

【目的】:クランキング中、及びその後のDUTの挙動を検証する。

【試験】:DUTの関連するすべての入力部に、以下の起動プロフィールを同時に適用する。起動サイクルと起動サイクルの間には、1~2秒間の休止時間を推奨する。

4.6.3

 

WF1973/WF1974 シーケンスデータダウンロード →

 

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